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德瑞精准(上海)测控技术有限公司
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产品介绍
核心技术
(1) 双光路设计提升重复性精度dE*ab≤0.025
双光路设计在测量样品信号的同时监测光源能量波动,在测量时减少干扰,获得更高的测量稳定性,将仪器测量重复性指标提高至dE*ab≤0.025。保证了仪器,测量速度、准确性、稳定性和台间差一致性高标准。相关技术受到中国发明专利和美国发明专利保护。

(2) 创新的凹面光栅光路结构
创新是彩谱的灵魂。历经近10年的潜心研究,采用凹面光栅实现优于10nm的分光能力,极大的提升了产品的技术表现。相关技术受到中国发明和美国发明专利保护。在世界范围内有自主知识产权。






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